将来の核融合炉材料として注目されるタングステンの発光線スペクトルに関する知見が、現在強く求められています。特に、炉壁から高温プラズマに混入して生成されるであろう、タングステンの高電離多価イオンの発光線スペクトルデータは極めて限られています。本課題では、電子ビームイオントラップ(EBIT)という特殊な装置を用いて、タングステン多価イオンを生成・トラップし、電子ビームとの衝突による極端紫外領域(EUV)の発光線スペクトルを測定します。二つの異なった回折格子、及び二種類のEUVフィルターを組み合わせることによって、より広範囲の波長領域にわたる発光線スペクトルの取得を試みます。

小型電子ビームイオントラップ（Compact electron Beam Ion Trap：通称 CoBIT）