3. プラズマ電位計測のための重イオンビームプローブ装置の開発
担当教員
西浦正樹、清水昭博、釼持尚輝、矢内亮馬
重イオンビームプローブ (HIBP) 装置により電位の内部構造を計測できます。プラズマ中の閉じ込め性能や物理を理解するためには電位分布を知る必要があり、重要な計測になります。高性能化に向けた金負イオンビーム源の改造と性能評価を体験します。
HIBP計測装置の概略
重イオンビームプローブ (HIBP) 装置により電位の内部構造を計測できます。プラズマ中の閉じ込め性能や物理を理解するためには電位分布を知る必要があり、重要な計測になります。高性能化に向けた金負イオンビーム源の改造と性能評価を体験します。
HIBP計測装置の概略